直型偽同軸落射照明，可實(shí)現(xiàn)高照度，高均勻性和緊湊的外殼

使用半反射鏡可以在與相機(jī)軸正交的軸上進(jìn)行照射和成像。
與IFVA相比，可以減小高度方向上的空間，并且可以節(jié)省空間。
由于可以通過鏡面反射進(jìn)行檢查，因此對于檢查表面上的細(xì)微劃痕，進(jìn)行打印以及檢查字符非常有效。
它可用于廣泛的應(yīng)用，例如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。