従來(lái)の１００倍のサンプリング數(shù)により、高分解能な測(cè)定が可能です。 積分器を使わないオリジナルサンプリング方式により、ドリフトが大幅に軽減されました。 測(cè)定スピードが任意に変更可能のため、磁界の印加速度による磁化特性が評(píng)価可能です。 波形の重ね描きが行えることで、より明快に特性を比較可能です。 直流磁化特性以外にも、自由に磁界を設(shè)定できる機(jī)能や交流磁化特性をオプションにて追加することも可能です。 保護(hù)回路を設(shè)けたことにより、誤配線時(shí)にも**?安心です。 本裝置は、軟磁性材料（ソフト材）の直流磁化特性?非履歴磁化特性?偏磁磁化特性?交流磁化特性の測(cè)定を行うためのアナライザです。各種特性曲線を描き、特性値の算出が可能です。オリジナルサンプリング方式を採(cǎi)用したことにより、ドリフトレスが実現(xiàn)しました。また、脫磁機(jī)能も充実させ、測(cè)定試料に応じた脫磁波形を作成することができるようになりました。
●直流磁化特性 ●*大印加磁界?印加時(shí)間 【オプション】非履歴磁化特性 ●*大印加磁界?周波數(shù)（～10kHz）?バイアス磁界 【オプション】偏磁磁化特性 ●任意磁界可変?任意磁界データ続出 【オプション】交流磁化特性 ●*大印加磁界?周波數(shù)（～10kHz）?印加時(shí)間?バイアス磁界
Bmax：*大磁束密度 Bmin：*小磁束密度 Jmax：*大磁化 Jmin：*小磁化 Hmax：*大印加磁界 Hmin：*小印加磁界 Br：殘留磁束密度 Jr：殘留磁化 Br/Bmax(Jr/Jmax)：角型比 Hc：保磁力 μm：*大比透磁率 μi：初比透磁率 W：ヒステリシス損 We：渦電流損 Ps：鉄損
●Ｂ計(jì)測(cè)部 直流：±1%（*大磁束密度） 交流：±1%（短絡(luò)時(shí)波高値） ●Ｈ計(jì)測(cè)部 直流：±1%（*大磁束密度） 交流：±1%（短絡(luò)時(shí)波高値）
●勵(lì)磁電流検出 方式：シャント抵抗法 測(cè)定レンジ：±0.1 ±10[V] ●磁束密度検出 方式：デジタル積分法 測(cè)定レンジ：±0.1 ±10[V] ●分解能 24bit ●サンプルレート 10μsec／1msec(測(cè)定時(shí)間50sec以降)
內(nèi)容：測(cè)定條件?各特性値 グラフ：BH?JH?μrH?JHT
方式：バイポーラ定電流方式 出力：*大出力 ±60[V]／5[A]?±40[V]／15[A]（ご注文時(shí)に選択）
蓉公網(wǎng)安備 51012402000290號(hào)
